本次會議由遼寧儀表研究所有限責(zé)任公司承辦，會議由標(biāo)委會秘書長李洪國主持并致歡迎詞。秘書長李洪國系統(tǒng)地回顧、總結(jié)了過去一年來所做的工作，并對目前標(biāo)準(zhǔn)化的重
點(diǎn)工作及下一步工作計(jì)劃做了闡述和安排。

    到會委員和代表對標(biāo)委會歸口的《無損檢測儀器工業(yè)X射線探傷機(jī)電氣通用技術(shù)條件》、《無損檢測儀器工業(yè)X射線探傷機(jī)通用技術(shù)條件》、《X射線晶體定向儀》、《無損檢測儀器工業(yè)軟X射線探傷機(jī)》、《無損檢測儀器射線探傷用密度計(jì)》、《無損檢測儀器工業(yè)用X射線管系列型譜》、《無損檢測儀器X射線應(yīng)力測定儀技術(shù)條件》、《無損檢測儀器工業(yè)X射線檢測系統(tǒng)》、《無損檢測儀器工業(yè)X射線圖像增強(qiáng)器成像系統(tǒng)技術(shù)條件》、《無損檢測儀器X射線輪胎檢測系統(tǒng)》十項(xiàng)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的六項(xiàng)修訂標(biāo)準(zhǔn)和四項(xiàng)制訂標(biāo)準(zhǔn)草案稿進(jìn)行了認(rèn)真、細(xì)致地討論。并提出修改意見：

    1、《無損檢測儀器工業(yè)X射線探傷機(jī)電氣通用技術(shù)條件》：增加“3.1.5電源電壓波動”、“3.1.6電磁干擾”;修改了“3.4保護(hù)措施”等。

    2、《無損檢測儀器工業(yè)X射線探傷機(jī)通用技術(shù)條件》：增加了“3.1.6電磁干擾”;修改了“3.2技術(shù)性能”和“3.3安全與可靠性要求”;對“4試驗(yàn)方法”進(jìn)行了逐條逐句的討論、修改;刪除了“表3”中的“13”等。

    3、《X射線晶體定向儀》：對“3.2使用性能”多處做了的修改;將“刻度顯示型”刪掉等。 

    4、《無損檢測儀器工業(yè)軟X射線探傷機(jī)》：修改了“5.2.1環(huán)境溫度”;增加了5.6.2對高壓變壓器的描述;增加了6.11.3.2的參照圖表“表6”等。

    5、《無損檢測儀器射線探傷用密度計(jì)》：修改了“4.1環(huán)境條件”和“4.3安全要求”等。

    6、《無損檢測儀器工業(yè)用X射線管系列型譜》：將表格做了簡化，并根據(jù)產(chǎn)品發(fā)展及市場需要對表1、表2等做了詳盡的修改。

7、《無損檢測儀器X射線應(yīng)力測定儀技術(shù)條件》：修改了“4.1環(huán)境條件”;在“4.12散射線照射量率”中增加“參照GB22448-2008中3.1規(guī)定進(jìn)行”并將“散射線照射量率”改為“散漏射線空氣比樣動能率”;將6.7中“射線照射量率”改為“散漏射線照射量率”等。

    8、《無損檢測儀器工業(yè)X射線檢測系統(tǒng)》：將標(biāo)題中“檢測系統(tǒng)”改為“探傷裝置”;增加了檢驗(yàn)規(guī)則和第11、12.2～12.3.2;透照范圍修改為“mm”等。

    9、《無損檢測儀器工業(yè)X射線圖像增強(qiáng)器成像系統(tǒng)技術(shù)條件》中：將標(biāo)題中“圖像增強(qiáng)成像系統(tǒng)”改為“圖像增強(qiáng)器成像系統(tǒng)”;修改了“4.1正常工作的環(huán)境條件”等。